冷熱沖擊試驗

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冷熱沖擊試驗 試驗背景

冷熱沖擊試驗,也被稱為溫度沖擊試驗或高低溫沖擊試驗,是一種重要的物理性能試驗方法,用于考核產(chǎn)品對周圍環(huán)境溫度急劇變化的適應(yīng)性。這種試驗在裝備設(shè)計定型的鑒定試驗和批產(chǎn)階段的例行試驗中扮演著不可或缺的角色,有時也可用于環(huán)境應(yīng)力篩選試驗。冷熱沖擊試驗在驗證和提高裝備的環(huán)境適應(yīng)性方面的應(yīng)用頻度僅次于振動與高低溫試驗。
中科檢測可靠性能實驗室具備各類可靠性測試能力,可為電腦、顯示屏、主機、電腦元器件等電工電子設(shè)備提供專業(yè)的冷熱沖擊試驗。

冷熱沖擊試驗 試驗范圍

1. 計算機類:電腦、顯示屏、主機、電腦元器件、醫(yī)療設(shè)備等精密儀器等;
2.電子通信類:手機、射頻器、電子通信元器件等;
3.電器類:家電、燈具、變電器等各類家電電器設(shè)備;
4.其他:包裝箱、運輸設(shè)備等。

冷熱沖擊試驗 試驗標(biāo)準(zhǔn)

SC/T 7002.15-2019  漁船用電子設(shè)備環(huán)境試驗條件和方法 溫度沖擊
GJB 150-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法
GB 2423 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程
MIL-STD-810H 環(huán)境工程考慮和實驗室試驗
ISO 16750 道路車輛電氣及電子設(shè)備環(huán)境條件和試驗
GB/T 2423.27-2020環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗方法和導(dǎo)則:溫度/低氣壓或溫度/濕度/低氣壓綜合試驗
GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫
GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫

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